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실리콘(Silicon)의
나노 결정(Nanocrystal) [Scanning
Electron Microscope]
:
실리콘의
나노 결정을 자동 탐지
"Journal of Crystal Growth 209 (2000) 1004-1008 : Priority
communication
Silicon quantum dot nucleation on Si3N4, SiO2 and SiOxNy
substrates for nanoelectronic devices" (T. Baron, F. Martin, P. Mur, C. Wyon, M.
Dupuy) 데모 보기
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입자 중첩(Overlapping Particles) :
중첩하는 입자들을 자동으로 탐지. 중첩 입자들의 볼록 껍질(Convex Hull) 분석
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3D 분석(3D Analysis) :
콘크리트 블록에 대한 3차원 분석 [3D 모듈 라이센스 필요)
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Visilog를 이용한 3D 영상처리 다른 예제
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Analysis of a material deposit :
Analysis of a material deposit on a water edge.
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수직 및 수평선 탐지 :
길이 분석을 이용한 수직 및 수평선 탐지
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어두운 오브젝트 탐지 :
어두운 오브젝트 분석 및 탐지
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섬유 분석(Fibers) :
영상의 다른 영역에서의 섬유(fibers)의 위치 찾기
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레이저 점적 분석(LASER Spots) :
레이저 반점 발견 및 분석
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색도계 분석(Colormetric Analysis) :
백색 펠리트(Pellets) 사이에서 황색 펠리트 탐지
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스티치 분석(Stitch) :
스티치(Stitch) 탐지 및 분석 - 유공성(porosity) 비율...
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오염 입자들(Pollution particles) :
오염 입자들의 발견, 분석 및 분류
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자기(porcelain) 구조 분석 :
함유물과 기포(bubbles)를 식별함으로써 자기 구조 분석
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Pollution deposit :
Calculation by polygonal approximation of pollution deposit characteristiecs on a polymer.
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